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HighFinesse波長計，線寬分析儀，激光光譜分析儀
HighFinesse Wavelength Meter
準確，靈敏，緊湊，具有廣泛光譜范圍，可用于脈沖和連續激光的高速測量
高達76 kHz的測量速度
<200 kHz分辨率
2 MHz絕對精度
適用于192-11,000 nm的儀器
HighFinesse波長計是用于脈沖或連續激光源波長測量的高端儀器。它們為尖端科學研究以及工業和醫學應用提供了所需的卓越的絕對和相對精度。
WS8系列具有卓越的精度，其絕對精度高達2 MHz，測量分辨率為200 kHz或更低，這是通過采用獨特的幾何結構的非移動Fizeau干涉儀實現的。所有HighFinesse波長計都依靠這一久經考驗的概念。為了獲得更高的穩定性和精度，可以補償溫度和壓力的影響。 HighFinesse還提供相當快的市售波長表。點擊這里查看更多信息。波長計的靈敏度可降低到nJ的大小，同時還有許多有用的選項可供選擇，例如PID激光控制，它提供了一個有源反饋環路來控制激光波長。
|
Absolute Accuracy [MHz] |
Measurement Resolution [MHz] |
Speed [Hz] |
Wavelength Ranges [nm] |
Calibration |
WS8-2 |
2 |
0.2 |
500 |
330-1180 |
see SLR-series |
WS8-10 |
10 |
0.4 |
500 |
248-1750 |
see SLR-series |
WS7-30 |
30 |
1 |
500 |
248-2250 |
see SLR-series |
WS7-60 |
60 |
2 |
500 |
192-2250 |
built-in |
WS6-200 |
200 |
4 |
500, IR: 1500 |
192-11000 |
built-in |
WS6-600 |
600 |
20 |
950, IR: 1500 |
192-2250 |
built-in |
WS5 |
3000 |
500 |
950, IR: 1500 |
192-11000 |
built-in |
HighFinesse線寬分析儀
測量，分析和控制窄激光源的頻率噪聲和線形的多功能儀器
頻率偏差時間軌跡的測量
頻率噪聲密度頻譜
強度噪聲頻譜
激光線形光譜
HighFinesse線寬分析儀（LWA）是一款用途廣泛，堅固耐用的緊湊型儀器，用于測量，分析和控制激光器的頻率和強度噪聲。這使它們成為實時精確表征激光的理想型設備。
通過將干涉測量工作原理與高端光學和電子組件相結合，可以實現出色的靈敏度。基于隨時間變化的頻率偏差的測量，可以計算出頻率噪聲密度譜，評估低至350 Hz的內部的（洛倫茲）線寬和有效（光學）線寬以及相對強度噪聲（RIN）的光學線形。通過進一步分析，可以獲取許多額外的量。LWA的無偏測量原理優于光學延遲線技術，因為由于技術固有的信息丟失，后者依賴于非平凡的評估需求。 LWA還允許使用PID控制來減少激光器的線寬。
LWA-1k產品系列是用于測量非常低線寬的儀器。 LWA-100k產品系列可在非常大的波長范圍內進行精確的線寬測量。
LWA-1k Series
frequency noise density: 50 Hz – 10 MHz
optical & Lorentzian linewidth: 350 Hz – 20 MHz
narrowing linewidth PID control
based on frequency discriminator (interferometer) |
|
Wavelength range [nm] |
Noise floor [Hz/√Hz] |
Frequency Noise Bandwidth |
Intrinsic linewidth range |
Effective linewidth range |
LWA-1k 780 |
760 - 1064 |
25 - 500 |
10 Hz - 10 MHz |
< 8 kHz |
< 10 kHz - 20 MHz |
LWA-1k 1550 |
1530 - 1565 |
5 - 100 |
10 Hz - 10 MHz |
< 350 Hz |
< 1 kHz - 20 MHz |
LWA-100k Series
frequency noise density: 25 Hz – 10 MHz
optical & Lorentzian linewidth: 2 kHz – 20 MHz
narrowing linewidth PID control
based on frequency discriminator (interferometer) based on frequency discriminator (interferometer) |
|
Wavelength range [nm] |
Noise floor [Hz/√Hz] |
Frequency Noise Bandwidth |
Intrinsic linewidth range |
Effective linewidth range |
LWA-100k NIR |
1064 - 1625 |
25 - 1000 |
25 Hz - 10 MHz |
< 2 kHz |
< 10 kHz - 20 MHz |
HighFinesse激光光譜分析儀
緊湊而穩固的光譜儀，具有可完全自定義的范圍和分辨率參數，能夠以高測量速度測量脈沖和連續激光
高達500 Hz的測量速度
分辨力R = 20,000（31 pm @633 nm）
適用于192-11,000 nm的儀器
波長精度：6 GHz（8 pm @633 nm)
基于光柵的HighFinesse激光頻譜分析儀是一款緊湊和通用的儀器，它具有非常精確的同時測量激光光源的中心波長和線寬的能力。
該產品系列涵蓋了從192 nm到11,000 nm的范圍。 基于光柵的技術可以分析較大線寬范圍內的激光源。 LSA利用的是固定部件的原理，就像眾所周知的HighFinesse WS系列波長計一樣，具有經過時間考驗的耐用性，并能夠測量脈沖激光器和連續激光器。
LSA Series
pulsed & cw lasers:
non-moving parts
Remote network access
software integration |
|
Absolute Accuracy [GHz] |
Resolving Power [R = λ/Δλ] |
Spectral Resolution [Δλ = λ/R] |
Measurement Speed [Hz] |
Wavelength Ranges [nm] |
LSA |
6 |
20000 |
e.g. 31.65 pm @633 nm |
500 (Data Acquisition) |
192 - 2250 |
LSA IR-III Series
pulsed & cw lasers:
non-moving parts
Remote network access
software integration |
|
Absolute Accuracy [nm] |
Spectral Resolution [nm] |
Measurement Speed [Hz] |
Wavelength Ranges [μm] |
Calibration |
LSA IR-III Type 2-3 |
1 |
15 |
100 |
1.4 - 3 |
see IR-HeNe |
LSA IR-III Type 2-6 |
2 |
20 |
100 |
1.4 - 6 |
see IR-HeNe |
LSA IR-III Type 2-11 |
5 |
30 |
100 |
1.4 - 11 |
see IR-HeNe |
HighFinesse FAST 波長計系列
可實現高速測量的商用波長計，讀出速率高達 76 kHz
分析快速波長動態
數據采集： 76 kHz
絕對精度：200 MHz
該儀表的測量范圍為 380 至 1650 nm
我們的 WF6 系列以測量速度見長，是可實現高速測量的商用波長計。在 380 至 1050 nm 波長范圍內讀出速率高達 24 kHz，在 980 至 1650 nm 波長范圍內的讀出速率甚至高達 76 kHz。這些波長計可以精確地表征快速掃頻激光源的特性。
FAST 波長計可以從外部觸發，便于與其他進程同步測量波長。作為一個特殊的軟件功能，該波長計具有便于分析快速波長動態的示波器模式。
FAST Wavemeter series |
Absolute Accuracy [nm] |
Measurement Resolution [MHz] |
Speed [Hz] |
Wavelength Ranges [μm] |
Calibration |
WF6-600 VIS |
600 |
20 |
24000 |
380-1050 |
see SLR-series |
WF6-200 VIS |
200 |
4 |
24000 |
600-1050 |
see SLR-series |
WF6-200 IR |
200 |
4 |
76000 |
980-1650 |
see SLR-series |
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線陣CCD光纖光譜儀
